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SIUI超声波测厚仪的原理及测厚方法
发布时间:2018-11-07   点击次数:32次
   SIUI超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

  凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

  SIUI超声波测厚仪测厚的的基本原理:

  SIUI超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头

  通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

  按此原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受

  腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航天等各个领域。

  使用SIUI超声波测厚仪的一般测量方法:

  (1)在一点处用探头进行两次测厚,在两次测量中探头的分割面要互为90°,取较小值为被测工件厚度值。

  (2)30mm 多点测量法:当测量值不稳定时,以一个测定点为中心,在直径约为30mm 的圆内进行多次测量,取最小值为被测工件厚度值。

  2、精确测量法:在规定的测量点周围增加测量数目,厚度变化用等厚线表示。

  3、连续测量法:用单点测量法沿指定路线连续测量,间隔不大于5mm。

  4、网格测量法:在指定区域划上网格,按点测厚记录。此方法在高压设备、不锈钢衬里腐蚀监测中广泛使用。

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